Суспензия CMP

Суспензия CMP для химико‑механической полировки изготовлена на основе коллоидного диоксида кремния с уникальной формулой, разработанной в соответствии с различными требованиями к полировке. Стабильное значение pH обеспечивает постоянную скорость полировки и сокращает время обработки. Продукт может широко применяться при химико‑механической полировке различных материалов, таких как:
• сапфир;
• полупроводниковые материалы (например, кремний (Si), германий (Ge), арсенид галлия (GaAs), фосфид индия (InP), карбид кремния (SiC), нитрид галлия (GaN), нитрид алюминия (AlN));
• нержавеющая сталь;
• алюминиево‑магниевые сплавы;
• сложные кристаллы и др.

характеристики:

НомерРазмер зерна
Внешний вид частиц
pH
Вязкость
Концентрация
SOQ-12D110nm-130nm



Сферический




10.5±0.5
<20cst
20%
SO-100-PF90nm-120nm


<10cst



20-50%
SO-80-PF70nm-90nm
SO-60-PF50nm-70nm
SO-40-PF30nm-50nm
SO-20-PF10nm-30nm
<30cst
10-40%
Измерительный приборЛазерный анализатор частиц
SEM/TEM
рН‑метр
Вискозиметр
Ареометр
Примечание: по запросу доступны индивидуальные размеры.

Применение:

Подложки из карбида кремния
Сапфировые и карбидокрем-ниевые пластины
Нержавеющая сталь
Оптические стёкла и кристаллы
Подложка‑теплоотвод из нитрида алюминия
Оптическая связь